| La Microscopía de Fuerzas Atómicas, AFM, es una técnica para la caracterización de la superficie de materiales con resolución inferior a 100 nanometros. En muestras especialmente planas la resolución llega a ser subnanométrica. La Microscopía de Fuerzas Atómicas junto con la Microscopía de Efecto Túnel, STM, forman parte de las llamadas Nanoscopías. Se trata de todo un grupo de técnicas, instrumentos y procedimientos dirigidos a caracterizar la materia a la escala del nanómetro. General Es un equipo de la casa DIGITAL INSTRUMENT (Santa Bárbara, California), Nanoscope III Multimode. Permite obtener imágenes tridimensionales de alta, o muy alta resolución de la superficie de muchos tipos de materiales. Se dispone de las modalidades denominadas modo contacto, modo resonante, modo magnético y microscopía de efecto túnel, STM. Estas técnicas son adecuadas para caracterizar estructuras en tres dimensiones desde la escala del nanometro o inferior, hasta decenas de micras, así como para ver la evolución temporal de las mismas. Aplicaciones Metales, semiconductores, aislantes, vidrios, cerámicos, plásticos, materiales poliméricos y en general materiales orgánicos, inorgánicos o incluso biológicos que pueden estar, o no, depositados sobre otros sustratos. En ciertas condiciones es posible la obtención de imágenes en medios líquidos. Así mismo, mediante la llamada técnica de contraste de fase, es posible la caracterización de algunas propiedades de materiales como por ejemplo detección de dominios magnéticos, zonas de distinta dureza o de diferente composición. El equipo incorpora, además, la microscopía de Efecto Túnel, STM, de muy alta resolución, aplicable sólo a muestras eléctricamente conductoras o al menos no aislantes.
Financiación
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La infraestructura de este servicio ha sido parcialmente financiada por
el Fondo Europeo de Desarrollo Regional (FEDER).
Número de proyecto: UNLL03-23-017
Número de proyecto: UNLL08-3E-003
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